2014年07月31日08:49
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西班牙Graphenea公司2014年7月25日宣布,與日本立命館大學等共同實現了GaN結晶在硅(100)面上的生長。其要點在於用石墨烯作為中間層。該技術是日本立命館大學理工學部電子光信息工學科荒木努和名西Yasushi的研究室、美國麻省理工學院(MIT)、韓國首爾大學(Seoul National University)、韓國東國大學(Dongguk University)及西班牙Graphenea公司開發的。
以石墨烯為中間層在硅(100)面上形成的GaN結晶。SEM圖像。(照片由Graphenea公司提供)
在硅(100)面上直接生長缺陷少的GaN結晶時非常困難,幾乎沒有成功先例。以前在GaN-on-Si技術實用化方面取得進展的,主要是在硅(111)面上生長GaN結晶的技術。GaN-on-Si技術的一大優勢是能夠沿用已有的硅半導體制造裝置,但大部分的半導體制造裝置均以硅(100)面為對象,從硅(111)面上的GaN-on-Si技術來看,其沿用范圍有限。
在此情況下,出現了在Si(100)面上形成中間層后,成功實現GaN結晶生長的案例。名古屋大學就是其中之一,該大學研究生院工學系研究科教授天野浩的研究室通過在硅(100)面上形成“某種金屬層”,然后再在該金屬層上成功實現了GaN結晶的生長。
此次Graphenea公司等在硅(100)面上首先形成石墨烯,然后在石墨烯上實現(0001)面的GaN結晶生長。詳細步驟如下。
首先以普通的化學氣相沉積法(CVD)在銅(Cu)箔上形成石墨烯。接著轉印到硅基板上。這時,通過蝕刻去除Cu箔。
然后,在該硅基板上的石墨烯上,以RF-MBE(Radio-Frequency Molecular Beam Epitaxy,射頻等離子體輔助分子束外延)法使GaN結晶生長。據Graphenea公司介紹,該RF-MBE法是立命館大學提供的技術,對具備高結晶性的GaN結晶生長起到了重要作用。
利用掃描型電子顯示鏡(SEM)及高分辨率X線衍射技術檢測生長出的GaN時,顯示GaN結晶具備6角形對稱稱,是沿c軸方向生長的。另外,粒徑要比無石墨烯時大。與藍寶石基板上生長的GaN結晶相比,盡管還存在配向均一性問題,但從硅(100)面上生長的GaN結晶來看,實現了最高品質。
順便提一句,東京大學藤岡洋的研究室也宣布在石墨烯上生長出了GaN結晶。但藤岡等並不是硅上,而是在玻璃上形成GaN結晶的。而且,使用的也不是RF-MBE法,而是濺射法。(作者:野澤 哲生,日經技術在線!供稿)